EMI測試

EM5030 是一款主(zhu)要用于查(cha)找幹擾源(yuan)，判定幹擾(rao)産生原因(yin)的💁🏼‍♀️高性價(jia)比👱🏼‍♂️近場探(tan)頭。可用來(lai)檢測器件(jian)表面的磁(ci)場方向以(yi)及強度；檢(jian)測磁場耦(ou)合的通道(dao)，從而調整(zheng)連接器位(wei)置；檢測模(mo)塊附近的(de)👱🏼‍♂ᥧ🏃🏻‍♀️在线播放中文字幕🧑🏻‍❤️‍🧑🏼9;磁場環境(jing)。爲了降低(di)幹擾，尋找(zhao)到真正的(de)幹擾源或(huo)者是其傳(chuan)🏊🏿‍♀️播的途徑(jing)是非常有(you)必要的，通(tong)過近場探(tan)頭測量可(ke)以很方便(bian)地實現定(ding)位💯功能。通(tong)過配合本(ben)公司的EM5020前(qian)置放大器(qi)👿可以提高(gao)系統測試(shi)靈敏👋度。大(da)大的減少(shao)産品的研(yan)💌發周期，減(jian)少往返實(shi)驗室的時(shi)間和金錢(qian)，減少不必(bi)要的錯誤(wu)測試。 EM5030近場(chang)探頭就是(shi)解決問題(ti)的最好利(li)器！

型(xing)号	說(shuo)明	特(te)性
EM5030－1	磁(ci)場近場探(tan)頭，可檢查(cha)10cm範圍内的(de)磁場。 主要(yao)用于機箱(xiang)洩漏測試(shi)。 頻率範圍(wei)：30MHz to 3 GHz 分辨率：25mm左(zuo)右
EM5030－2	磁(ci)場近場探(tan)頭，可檢查(cha)3cm範圍内的(de)磁場。 頻率(lü)範圍：30MHz to 3 GHz 分辨(bian)率：10mm左右
EM5030－3	磁場近(jin)場探頭，主(zhu)要用于線(xian)纜電磁洩(xie)漏測試。 頻(pin)率範圍：30MHz to 2 GHz 分(fen)辨率：5mm左右(you)
EM5030－4	磁場(chang)近場探頭(tou)，可檢測垂(chui)直方向發(fa)射的電磁(ci)場 。 主要用(yong)于PCB布線産(chan)生的電磁(ci)場測試。 頻(pin)率範圍：30MHz to 3 GHz 分(fen)辨率：2mm左右(you)